手台式薄膜测厚仪 CH-1-ST-上海精密仪器仪表有限公司-无损检测分部

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本测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜或薄片）。本测厚仪执行标准GB/T6672-2001标准。

技术参数

测量范围：0~1mm

分度值：0.001mm

显示方式：指针式


	CH-1-ST
产地	China
	欢迎您来电咨询：021－65730171

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